Geokemi och analys
SIMS
SIMS, sekundärjonmasspektrometri, är en metod där en fokuserad jonstråle bombarderar en liten del av provet och de sekundära joner som frigörs analyseras med masspektrometer.
Fördjupning
SIMS sputtrar en mikroskopisk del av provet med en jonstråle och väger de lossnade jonerna, vilket gör det möjligt att analysera mycket små zoner i en kristall.